【新南瀛記者黃鐘毅報導】致力於積體電路測試技術之研究，在測試資料壓縮及系統晶片測試設計架構方面成效卓著的成功大學電機工程學系李昆忠教授，日前由國際電機電子工程師學會 (IEEE) 的計算機專業學會(Computer Society) 推薦至IEEE總部，在眾多競爭者中脫穎而出，榮獲為IEEE Fellow（會士）。IEEE肯定他對積體電路設計及測試技術之貢獻，李教授對台灣及全世界學術及產業界之貢獻闕偉，今被選為IEEE Fellow，乃實至名歸。
在學術界及產業界都產生巨大影響及貢獻的電機工程學系李昆忠教授，他所發明之廣播式掃描測試技術，現今已成為高複雜度積體電路最常採用之測試資料壓縮方法，目前使用此方法試或其衍生技術之積體電路晶片已超過數十億顆，對業界測試成本之降低影響至為深廣。
李昆忠教授，迄今已發表210餘篇期?及會議論文，這在積體電路測試領域甚為不易。其論文多在高品質之IEEE期?及國際頂尖會議發表，例如在2016年全世界最高水準之國際測試會議即有三篇論文發表，不僅為國內之最，且在全世界亦數一數二。
李昆忠教授之學術研究成果豐碩，且獲得國內外之高度肯定，他曾帶領成功大學研究團隊兩度獲得國科會(現科技部)國家型三年計畫之最佳績優計畫?，近幾年亦持續在多項國內及國際會議中獲得殊榮，如在2015 積體電路測試技術研討會、2015及2016全國超大型積體電路設計暨電腦輔助設計(VLSI/CAD)研討會、2016年IEEE 高階測試研討會等會議，均獲得最佳論文獎，其指導學生也在2015年IEEE 亞洲測試會議亦榮獲最佳博士論文獎。
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